PHƯƠNG PHÁP TÍNH TOÁN CỰ LY HOẠT ĐỘNG CỦA THIẾT BỊ ẢNH NHIỆT DỰA TRÊN ĐỘ CHÊNH LỆCH NHIỆT TỐI THIỂU
308 lượt xemTừ khóa:
Ảnh nhiệt; Cự ly hoạt động; MRTD.Tóm tắt
Các thiết bị ảnh nhiệt ngày càng được sử dụng rộng rãi trong quân sự cho các thiết bị ngắm bắn cũng như quan sát. Có nhiều phương pháp để tính toán cũng như đánh giá cự ly quan sát của các thiết bị ảnh nhiệt, cả phương pháp lý thuyết lẫn quan sát thực tế với những ưu nhược điểm khác nhau. Bài báo đưa ra phương pháp tính toán cự ly hoạt động của thiết bị ảnh nhiệt: Cự ly phát hiện, nhận dạng và phân biệt dựa trên độ chênh lệch nhiệt tối thiểu (MRTD) được đo trong phòng thí nghiệm theo tiêu chuẩn STANAG-4347 của NATO. Phương pháp được áp dụng để tính toán cự ly quan sát cho kênh ảnh nhiệt của kính ngắm pháo thủ hỗn hợp ngày đêm dùng cho xe tăng T-54B (T55).
Tài liệu tham khảo
[1]. STANAG 4347 – “Definition of static range performance for thermal imaging systems”, NATO, 1995
[2]. Krzysztof Chrzanowski: “Testing Thermal Imagers – Practical guidebook”, Military University of Technology, Warsaw, Poland, 2010.
[3]. Holst G.C., “Infrared Imaging System Testing”, Vol.4, Chapt. 4 in The Infrared & Electro-Optical Handbook, Michael C. Dudzik ed, SPIE 1993.
[4]. Piet Bijl. Alexander Toet, J. Mathieu Valeton, “Electro-Optical Imaging System Performance Measurement”, in Encyclopedia of Optical Engineering, pp. 443-452, Marcel Dekker Inc., New York, 2003.
[5]. J. G. Vortman, A. Bar-Lev, “Improved minimum resolvable temperature difference model for infrared imaging system”, Optical Engineering, Vol.26 No. 6, pp 492-498, 1987.
[6]. Krzysztof Chrzanowski, “A minimum resolvable temperature difference model for simplified analysis”, Infrared Physics Vol. 31. No. 4, pp. 313-318, 1991.
[7]. ASTM E1213-97, “Standard Test Method for Minimum Resolvable Temperature Difference for Thermal Imaging Systems”, 1997.
[8]. Joseph Kostrzewa, John Long, John H. Graff, and John David Vincent "TOD versus MRT when evaluating thermal imagers that exhibit dynamic performance", Proc. SPIE 5076, Infrared Imaging Systems:Design, Analysis, Modeling, and Testing XIV, August 2003.